產品概述

ATP6750P便攜式制冷型紫外光纖光譜儀是奧譜天成ATP6750系列中的一款科研級、超高靈敏度、透射光柵成像光纖光譜儀。該型號采用紫外增強型背照式面陣CCD并配備TEC制冷至-10℃，特別針對紫外波段進行優化，在保持超高靈敏度的同時大幅降低暗噪聲。

ATP6750系列采用高效率零像差透射光路系統與F/1.2超大數值孔徑光學設計，可接收光纖（數值孔徑0.22）的全部光子，靈敏度比常規光纖光譜儀增強3-4倍。該系列特別適合微光信號的分析場景，如氣體分析拉曼光譜成像、熒光光譜成像等微弱光的成像分析。

ATP6750P便攜式制冷型紫外光纖光譜儀核心特性

光學性能

• 光譜范圍：185-1100nm（覆蓋紫外-可見-近紅外）

• 光學分辨率：0.1-3nm（取決于光譜范圍和狹縫寬度）

• 光學設計：透射光柵光路，F/1.2超大數值孔徑，零像差設計

• 空間分辨率：高空間分辨率，支持空間維成像分析

探測器配置

• 探測器類型：紫外增強型背照式面陣CCD（UV-Enhanced, Cooled Back-Illuminated Area Array Detector）

• 制冷溫度：TEC制冷至-10℃

• 有效像素：2048×64像素

• 空間通道數：64通道

• 信噪比：50000:1

• 動態范圍：50000:1

• 積分時間：2ms-15min

電氣與物理參數

• ADC分辨率：18bit（輸出16bit）

• 數據接口：USB 2.0（高速）

• 擴展接口：20針雙排可編程外擴接口

• 供電方式：DC 12V，工作電流約2.0A

• 光纖接口：SMA905

• 尺寸：199×125×85mm3

• 重量：約1.2kg

• 工作溫度：-25℃至+50℃

ATP6750系列型號對比

技術優勢詳解

1. 零像差透射光路設計
ATP6750P采用透射光柵光路結構，相比傳統C-T光路，具備零像差特性，空間分辨率更高，可同時獲取光譜信息和空間信息，實現“圖譜合一"的成像分析能力。

2. 超大數值孔徑（F/1.2）
F數為1.2的超大數值孔徑設計，可接收SMA905光纖（數值孔徑0.22）輸出的全部入射光，光通量很高，特別適合弱光信號采集。

3. 制冷型背照式CCD
采用TEC制冷至-10℃，大幅降低探測器的暗電流與熱噪聲。在長積分時間下，制冷帶來的信噪比提升尤為顯著——ATP6750P的信噪比高達50000:1，比同類競爭對手提高約2倍。

4. 紫外波段優化
ATP6750P采用紫外增強型CCD，在185-400nm紫外波段具有更高的量子效率，適用于紫外拉曼、紫外熒光等需要紫外探測的應用場景。

典型應用領域